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原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測(cè)量。

原位解決方案-低溫電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測(cè)量的目的。

原位解決方案-光電性質(zhì)測(cè)試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測(cè)量或者CL測(cè)量。

原位MEMS-TEM-STM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括力，熱，光，電等），從而對(duì)材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。

原位解決方案-高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測(cè)量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測(cè)量。實(shí)現(xiàn)了透射電鏡中真正意義上的高分辨率定量原位力學(xué)研究。

原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。